微纳加工
三种接触模式与极限分辨率
软接触(0.1–0.3 MPa):1–2 μm,均匀性 ±10%,适合微流控/电极
硬接触(背面充气):0.8–1.5 μm,均匀性 ±5%
真空接触(间隙抽真空):0.5–1.0 μm,均匀性 ±2%,胶厚需 <1.5μm 正胶
接近式(gap 10–50μm):受衍射限制 3–5 μm,只适合粗结构
6 寸片上的实际工艺窗口
参数 | 软接触 | 真空接触 |
胶厚 | 1.2 μm | 0.9 μm |
前烘 | 100℃/90s | 100℃/60s |
曝光量 | 80–100 mJ/cm² | 60–80 mJ/cm² |
显影 | NMD-3 60s | NMD-3 45s |
最小稳定线宽 | 1.5 μm | 0.6 μm |
片内均匀性 | ±8% | ±3% |
为什么 6 寸比 4 寸难
翘曲:6 寸 SS 抛光片平整度 ±5μm,真空吸附不平→局部间隙变大→线宽变粗
掩模版变形:铬版 6 寸自重+抽真空吸附,角部易拉伸 0.3μm 套刻误差
匀胶边缘效应:6 寸边缘胶厚比中心薄 8–12%,曝光剂量要分区补
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